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ES4520 半導(dǎo)體器件與集成電路自動測試平臺
所屬分類: 集成電路
電子封裝是半導(dǎo)體和集成電路產(chǎn)業(yè)的重要環(huán)節(jié),其不但直接影響著集成電路本身的電性能、機械性能、光性能、熱性能、 可靠性和成本,還在很大程序上決定著電子整機系統(tǒng)的小型化、多功能化、可靠性和成本。
產(chǎn)品詳情
1.產(chǎn)品介紹
半導(dǎo)體器件與集成電路自動測試平臺基于工業(yè)級集成電路ATE設(shè)備架構(gòu),針對半導(dǎo)體器件與集成電路自動測試技能教學(xué)與實訓(xùn)的需求進行適配,以較低的成本實現(xiàn)了工業(yè)級集成電路ATE設(shè)備完備的功能和較高的性能,同時保留手動測試接口,能完成半導(dǎo)體材料與器件(二極管、三極管、場效應(yīng)管、IGBT等)、數(shù)字芯片/晶圓(如存儲器、邏輯芯片、MCU、FPGA等)、模擬芯片/晶圓(如LDO、DC-DC、運放等)和數(shù)模混合芯片/晶圓(如ADC、DAC等)的手動/半自動/自動測試。并預(yù)留射頻芯片測試通道,可通過后期升級完成對射頻芯片/晶圓的測試。測試項目齊備,包括開短路測試、直流參數(shù)測試、交流參數(shù)測試、功能參數(shù)測試等。
半導(dǎo)體器件與集成電路自動測試平臺包括控制&測量單元、電源管理單元、SMU、PE、TMU、AWG、 DGT、RF、矩陣開關(guān)&用戶矩陣單元以及DUT等部分??刂?amp;測量單元主要完成測試平臺的控制和參數(shù)測量功能;電源管理單元負(fù)責(zé)整個設(shè)備的供電管理;SMU完成開短路、漏電流、DC參數(shù)等功能和參數(shù)的測試;PE實現(xiàn)對數(shù)字IO的輸出與輸入功能;TMU主要用于芯片的AC參數(shù)測試;AWG提供模擬波形,作為模擬器件測試時需要的輸入;DGT將獲得的模擬信號換為數(shù)字信號再送入控制&測量單元進行波形數(shù)據(jù)分析處理;RF完成射頻指標(biāo)和功能的測試;矩陣開關(guān)用于硬件測試接口和DUT引腳的對應(yīng)切換;用戶繼電器用于DUT上測試電路的配置;DUT包含被測器件及測試所需的外圍電路。
2.產(chǎn)品特點
3.產(chǎn)品功能

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ES4520 半導(dǎo)體器件與集成電路自動測試平臺
電子封裝是半導(dǎo)體和集成電路產(chǎn)業(yè)的重要環(huán)節(jié),其不但直接影響著集成電路本身的電性能、機械性能、光性能、熱性能、 可靠性和成本,還在很大程序上決定著電子整機系統(tǒng)的小型化、多功能化、可靠性和成本。
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